물  품  규  격  서

순 번

품   명

단 위

수 량

비   고

A

국문

질량분석기

Set

1

Agilent 7850 상당품

영문

-

A. 특징 (Feature)

1. 유도결합플라즈마 질량분석기는 수질, 퇴적물 그리고 토양 중에 존재하는 다양한 독성 무기성분들을 극미량까지 분석하는데 사용된다. 

2. 진보된 디자인과 다양한 검사를 통해 완벽한 시설이 갖춰지지 않은 실험실 환경에서 조차에서도 높은 품질의 데이터를 생산할 수는 능력을 갖춘 장비이다. 

3. 강화된 플라즈마 안정성과 유기용매들에 대한 내성은 새롭게 도입된 고속 파장- 매칭 라이디오파 발생기에 의해 구현된다.  

4. 새롭운 ORS4는 헬륨 모드에서 보다 강화된 방해이온제거기능을 가능하게하며 복잡한 매트릭스에서 조차에서도 신뢰성 있는 더 낮은 검출한계의 정량성을 보여준다. 

5. 이 시스템은 대부분의 시료 타입에서 대부분 무기성분을 위해 사용되는 헬륨 충돌 모드에서 단일 셀 가스 라인을 갖춘 팔중극자 반응 시스템을 보여준다. 

헬륨 모드는 시료의 매트릭스에 상관없이 안정적인 셀을 사용함으로서 매쏘드 개발을 단순화 한다. 

6. 이 시스템은 반도체 산업을 제외하고는 반응 가스가 필요하지 않는다. 그럼으로써 반응가스를 사용함에 있어 부수적인 복잡성과 불확실성을 제거할 수 있으며 장비 운영을 획기적으로 단순화하고 데이터 품질을 극대화 할 수 있다. 

7. 이 시스템은 초 고 매트릭스 도입 모드를 채택하여 최대 25%레벨의 총 용해 고체 시료양을 직접 분석함으로서 시료 준비 시간과 비용을 최소화 할 수 있다.

8. 이 시스템은 헬륨 모드, 고 매트릭스 도입시스템 그리고 사전설정 튜닝 조건을 사용하는데 이러한 조합은 일반 분석응용에서 지속적으로 정확한 결과와 우월한 성능을 내면서도 장비운영을 단순화 할 수 있다. 

B. 장비의 구성(Configurations of Goods)

1.  유도결합플라즈마 질량분석기        1 SET

1) 시료도입부 (주장비)

2) 라디오파 발생기 (주장비)

3) 이온 랜즈 (주장비)

4) 시료 인터페이스

5) 쉴드 토치 시스템

6) 방해이온 제거 시스템

7) 진공 시스템

8) 사중극자

9) 검출기

10) 검출 성능 사양

2. 시료자동주입기 (부속장비)     1 SET

3. 소프트웨어와 데이터 시스템               1 SET

4. 악세사리

C. 성능 및 규격(Performance and Specification)

1. 유도결합플라즈마 질량분석기        

1) 시료도입부 : 표준 시료는 효율적이고, 낮은 유량의 동심형 분무기, 온도 조절 스프레이 챔버 그리고 높은 정확도의 10롤러 연속흐름 펌프로 구성된다. 모든 구성들은 최대 25%의 총 용해 고체 농도 시료까지 일상적으로 분석할 수 있도록 최적화 되어있다. 

(1) 분무기 : 저 유량 유리 동심형 분무기, 시료 소모량을 줄이고 방해 성분 영향을 최소화 하기 위해 0.2 ml/분으로 도입

(2) 스프레이 챔버 : 석영, 저용량, 스콧 타입 이중- 통로 스프레이 챔버는 회호리형(사이클론)이나 충격- 비드 디자인과 비교하여 큰 에어로졸 방울의 형성을 억제한다. 표준으로 채택된 전기냉각은 안정적인 장비 운영과 외부 물냉각공급장치를 분리할 필요성이 없다. 

(2)- 1 온도 조절 범위 : 15 에서 30℃에서 물냉각 - 5℃ to +20℃ 

(3) 연속유량펌프 : 정확한 시료 전달과 내부 표준물질 그리고 스프레이 챔버 배수를 위한 3개의 채널을 갖춘 낮은 떨림, 고 정확도 10 롤러 연속흐름펌프

(4) 초 고 매트릭스 도입 기능 : 일반적인 액상 희석에서 가능한 에러와 추가 시간과 비용을 최소화 하면서도 총 용해 고체 범위를 퍼센트 레벨까지 확장

2) 라디오파 발생기

라디오파 범위 : 500W 에서 1600W, 10W단위로 증감, 다양한 주파수 임피던스 메칭이 탑제된 유지보수가 필요 없는 고체형 디지털 드라이브 27MHz 라디오파 발생기는 높은 유량의 휘발성 유기용매의 도입을 포함하여 시료 매트릭스 변화에서도 획기적으로 향상된 플라즈마 안정성을 보여준다.

3) 이온 렌즈

이온 렌즈 : 렌즈는 게이트 벨브의 앞쪽에 위치하고 있어 진공을 깨지 않고 주기적인 세척이 가능하도록 접근을 용이하게 한다. 

(1) 비 선형 오메가 렌즈 : 충돌과 반응셀, 고진공 지역을 중성 입자와 이온 빔으로부터 나오는 광자를 분리함으로서 오염으로부터 보호한다. 이는 질량 쏠림을 최소화 하고 낮은 백그라운드 노이즈를 가능하게 한다. 

(2) 추출 렌즈 : 스키머 콘 뒤에 위치, 추출렌즈는 모든 질량의 이온을 모아주어 중간 진공 영역으로 들어가게 하고 질량 쏠림을 줄여주고 공간 내 이온 충돌 영향을 최소화 한다. 

4) 시료 인터페이스

(1) 시료 콘 : 1mm 직경 오리피스, 구리 기반의 니켈 or 백금 끝 처리. 

시료 콘을 재 조립하고 제거하는데에는 전혀 툴이 필요하지 않는다. 

큰 콘 유지 링은 신뢰성 있는 열적 접촉과 반복적인 재조립에 있어 재현성 있는 조임, 더 나아가 다른 운영자가 사용하더라도 신뢰 할 수 있는 장기 안정이 보장된 성능을 가능하게 한다.

(2) 스키머 콘 : 0.4mm 직경 오리피스, 니켈. 정확하게 조절된 스키머 콘은 팁 온도는 최소의 매트릭스 응축을 가능하게 하며 고 매트릭스 시료에 대한 우수한 내성을 보여준다. 작은 스키머 콘 오리피스는 유지보수를 줄이면서도 높은 진공 영역의 매트릭스 오염을 줄인다. 

5) 쉴드 토치 시스템

토치 : 쉬운 설치, 2.5mm 내경 인젝터를 가진 단일형 토치. 넓은 토치 인젝터는 효율적인 시료 매트릭스의 분해를 촉진시키며 방해성분을 최소화 하고 일상적인 인터페이스 세척을 최소화 한다.

토치 위치 : 3축(횡축, 종축 그리고 시료 깊이축) 에 0.1mm 단계로 스테퍼모터에 의해 조절

횡축과 종축 : ±2 mm

시료 깊이축 : 3 에서 28mm

쉴드 토치 시스템 : 정확하게 이온 에너지를 조절 -  헬륨 모드와 냉각 플라즈마 운영에서 고 성능을 내기 위해 필수 적, 백금 재질

6) 방해이온 제거 시스템

충돌과 반응 셀 기술

(1) 4세대 제네레이션 팔중극자 반응 시스템 

: 전 질량 영역에서 고정된 라디오파 증폭기에 의해 자동하는 12 MHz 팔중극자           이온가이드가 장착된 열적으로 안정된 셀. 3초 이내의 빠른 셀 가스 변경을 가능하게 하며 헬륨모드에서 운동에너지차별화(KED)를 사용하여 가장 효율적인 방해 이온 제거를 완성한다.

(2) 표준 헬륨 모드

: 쉴드 토치와 팔중극자 기반의 셀의 조합은 운동에너지차별화와 비활성 가스(헬륨)을 이용하여 효율적인 방해 이온 제거를 가능하게 한다. 헬륨 모드는 반응 셀 가스 모드와 비교하여 몇 가지 확실한 장점을 보여준다. 헬륨 모드는 미확인 시료를 포함하여 모든 시료에 적합하다. 

(2)- 1 헬륨 모드는 단지 반응성 있는 다원자 성분뿐만 아니라 모든 다원자 방해성분에 효율적이다. 

(2)- 2 새로운 방해 이온이 형성되지 않는다. 그리고 매트릭스와 상관없이 신뢰성 있는 결과를 획득할 수 있다. 

(2)- 3 헬륨은 다른 어떤 성분과도 반응하지 않는다. 그래서 지속적이고 예측가능한 감도가 유지된다. 

(3) 셀 가스 조절 : 표준 헬륨 가스 조절기, 수소 옵션, 제논 또는 암모니아 옵션

7) 진공 시스템 

(1) 단일 삼단 다단 진공 시스템, 분리 흐름 터보 분자 펌프 

(2) 독특한 자동 복원 모드는 전기가 나가고 전기가 다시 들어왔을 때 시스템을 자동으로 대기 상태로 돌려 둔다. 전 날 전력 중단 후 진공 시스템을 자동으로 재가동함으로 시간을 절약 할 수 있다. 

(3) 빠른 장비 끄기와 단순한 유지보수를 위한 단일 외부 로터리 펌프

8) 사중극자

(1) 사중극자 질량 분석기 

: 고 주파 (~3MHz) 사중극자는 가장 이상적인 방사형 막대 형태

방사형 형태의 사중극자는 기본 설정에서도 월등한 이온 전달, 분해능과 풍부한 감도를 보여주며 그럼으로써 주변 피크를 분리하기 위해 다중 분해능 설정을 할 필요가 없다. 

(1)- 1 질량 범위 : 2 ~ 260 amu

(1)- 2 질량 스켄 속도 

회전율 (Li 에서 U, 중간 개입 피크 없음) : 5,000 million amu/s 이상

스켄 속도 (Li 에서 U, 40 중간 개입 질량에서 추가 데이터 수집) : >3000 amu/s

(1)- 3 질량 분해능 : <0.3 amu 에서 >1.0 amu 

(1)- 4 질량 검량 안정도 : <0.05 amu/일, <0.1 amu/6개월

(1)- 5 어번던스 감도 (Cs에서) : 

저 질량 : 5 x 10^- 7, 고 질량 : 1 x 10^- 7

9) 검출기 : 직각 검출 시스템(ODS)는 보다 높은 감도와 낮은 백그라운드 그리고 넓은 동적 직선 범위를 가능하게 한다. 

(9)- 1 최소 머무름 시간 : 100 μs

(9)- 2 동적직선범위 : 1 cps에서 10 Gcps로 증폭되는 10오더 

10) 검출 성능 사양

(1) 감도(가스 모드 미적용) : Li(7) 110 Mcps/ppm, 

Y(89) 320 Mcps/ppm, 

U(238) 80 Mcps/ppm 이상

(2) 백그라운드 : 

비 가스 모드(9amu) ≤ 1.0 cps 헬륨 셀 가스 (9amu) ≤ 1.0 cps 

(3) 산소 비율 : CeO/Ce(HMI- 25) <2.5% 

(4) 2차 하전 비율: Ce2+/Ce <3.0%

(5) 비 가스 모드 검출 한계 : Be(9) : 0.5 ppt, 또는 그 이하

In(115) : 0.25 ppt, 또는 그 이하

       Bi(209) : 0.04 ppt 또는 그 이하

(6) 헬륨 모드 검출 한계 :    As (75) : 10 ppt, 또는 그 이하

(7) 단기 안정성 : 20 min  <3 %RSD 

(8) 장기 안정성 : 2 hours  <4 %RSD 

(9) 동위 원소 비 정확도 : Ag(107)/Ag(109)  <0.1 %RSD

2. 시료자동주입기

1) 무작위 X, Y, Z 접근은 소프트웨어에서 조절 가능하다. 

2) 시료자동주입기는 세척, 튜닝, 내부표준물질액을 위한 5 X 250ml 병과 표준 53 X 18 시료 바이알.

3) 내장된 세척 펌프는 프로브가 세척 병에 들어갈 때만 활성화 된다. 

3. 소프트웨어와 데이터 시스템              

1) 소프트웨어

워크스테이션은 분석의 모든 단계를 안내해는 형태를 갖춘 데쉬보드 배열 – 하드웨어 구성, 장비 최적화, 시료 도입, 데이터 분석. 사용자 편의의 인터페이스는 진보된 또는 연구개발 분야에 대해서도 강력한 기능과 사용의 유연성을 타협하지 않으면서도 소프트웨어를 배우고 사용하는 것을 보다 쉽게 하고 직관적으로 한다.

워크스테이션는 아래 내용을 포함하여 한다. :

-  획기적인 매트릭스- 지정 메쏘드 설정 마법사, 모든 사용자, 경험자, 신규사용자를 지속적으로 신뢰성 있는 고 품질의 데이터를 획득할 수 있도록 해 준다. 

-  배치 한눈에 파악하기 데이터 테이블은 실시간 업데이트 되며 모든 시료 데이터, 내부 표준물질/품질관리 시그널 추세 그리고 검량선을 포함하고 있다. 

-  내장된 아웃라이어와 LabQC 체크

-  사용자 구성가능한 “시작” 과 자동 튜닝

-  에러 기능에 대한 표준 품질관리 액션

-  스마트 메쏘드 마법사 (상호작용 모드)

-  상태 보기기능은 장비 하드웨어와 운영 상태를 쉽고 빠르게 보여준다. 

-  재배열 기능은 배치를 쉽게 편집할 수 있게 하고 재 분석을 위해 배열을 재설정 할 수 있도록 한다. 

-  단순화 되고, 유연성 있는 사용자 튜닝과 글러벌 튜닝 기능

-  단순하고 새로운 드레그 앤 드롭 사용자 지정 보고서 발생기는 엑셀이 추가로 필요하지 않다. 

-  iOS와 안드로이드 이동기기에서 제공한 ICP- MS 모바일 어플리케이션을 통해 모바일 관리를 지원한다. 

2) 워크스테이션 데이터 시스템 

-  PC 윈도우즈 10, 이중 24인치 모니터, 레이져 프린터

D. 악세사리(Accessory)

E. Remark

1. 최종 사용자가 원하는 곳에 설치 및 운영 가능 하도록 교육실시

2. 설치 후 보증기간 2년

※ 상기 규격을 만족하는 동급 또는 동급이상의 타사 제품으로 견적제출 가능 (사업부서 확인 후 견적 제출)

※ 입찰자가 면세사업자인 경우, 견적서는 반드시 부가가치세를 포함한 가격을 제출해야 하며, 입찰결과 낙찰자가 면세사업자인 경우 낙찰금액에서 부가가치세 상당액을 차감한 금액을 계약금액으로 한다.

물  품  규  격  서

순 번

품   명

단 위

수 량

비   고

B

국문

질량분석기

Set

1

NEXION 2000B 상당품

영문

-

A. 특징 (Feature)

1. 유도결합 플라즈마 질량분석기는 다양한 유해 무기 화합물의 극미량 분석에 사용됩니다. 

2. 진보된 디자인과 다양한 검사를 통해 완벽한 시설이 갖춰지지 않은 실험실 환경에서 조차에서도 높은 품질의 데이터를 생산할 수는 능력을 갖춘 장비이다. 

3. 탁월한 기기 가동 시간을 위해 거의 모든 유지 관리 요구 사항을 없애 준다.

4. LumiCoil ™ 기술 – 수명이 보장되고 물 또는 가스 냉각이 필요 없는 혁신적인 새로운 RF 코일

5. 특허받은 Triple Cone Interface와 Quadrupole Ion Deflector의 조합은 이온 빔을 제어하고 집중시킨다.

6. 이 시스템은 세척이나 교체가 필요하지 않도록 설계된 셀이있는 유일한 ICP- MS이다.

B. 장비의 구성(Configurations of Goods)

1.  유도결합플라즈마 질량분석기        1 SET

1) 시료도입 장치

2) 라디오 주파수 발생장치

3) 인터페이스

4) 진공 시스템

5) 이온 광학계 시스템

6) 질량 분석기

7) 간섭제거 시스템

8) 검출 시스템

9) 보증 규격

2. 시료자동주입기                1 SET

3. 데이터 제어 시스템                        1 SET

1) 소프트웨어

2) 하드웨어

4. 악세사리

C. 성능 및 규격(Performance and Specification)

1. 유도결합플라즈마 질량분석기

1) 시료 도입부 

(1) 제어 온도 : - 10 °C -  80 °C

(2) 4- 채널 연동펌프 및 가스 자동희석 : ≥100X

2) 라디오주파수 발생기

(1) 주파수 : 34MHz 

(2) 전력 :  500W~ 1,600W 

3) 인터페이스

(1) ICP- MS의 인터페이스는 모든 이차 방전을 제거하여 안정하고 신뢰성 있는 작동을 보증해야 한다.

(2) 콘 인터페이스 :  샘플러 콘은 1.1mm, 스키머 콘은 0.9mm를 가진 3중 콘 시스템 이어야 한다.

(3) 4 채널 질량 흐름 조절기가 부착 된다. 

4) 진공 시스템 

-  진공 레벨 : 1 x 10^{- 6}Torr 

5) 이온 광학계 시스템

(1) 사중극자로 구성된 이온 디플렉터 

(2) 90^o 각도로 이온빔이 이온들을 간섭제거 셀에 주입

(3) 이온화되지 않는 종과 간섭의 제거

6) 질량 분석기

(1) 방식 : 이원의 인바메탈 사중극자로 이루어진 질량분석기로 밴드 패스 조절이 가능하여 범용 셀의 쌍곡선 장을 형성

(2) 스캔률 : >5,000amu 

(3) 질량범위 : ~ 285 m/z 

7) 간섭제거 시스템

(1) 사중극자를 이용한 통합 셀 기술(UCT) 

(2) 운영 방식 : 표준, 충돌, 화학반응, 화학반응에 의한 치환 반응의 네 가지 방식 

(사용가스 :　NH3, CH4, O2, He 등)

(3) 자동 가스채널 : 기본 3개 장착 가능

(4) 전치 필터 : 이온이 메인 사중극자에 도달하기 전 통과하는 간섭제거 셀에 

연결된 사중극자로 구성된 사전 필터

8) 검출시스템 

(1) 아날로그와 펄스 카운트 신호를 한번의 스캔으로 동시 측정하는 2단계의 독립된 다이노드 전자증배관 (DDEM)이 표준으로 장착.

(2) 변환시간 : < 0.2 ms 

(3) 데이터 획득률 : 5,000 데이터 points/sec

9) 보증 규격

(1) 검출한계 : 원소 ng/L (ppt)

⁹Be < 0.5 

¹¹⁵In < 0.25

(2) 감도 : 원소 M cps/mg/L 

¹¹⁵In > 140

²³⁸U > 100 

(3) 바탕선 신호 : 220 < 1 cps 

(4) 짧은 시간 정밀도 : < 3% RSD 

(5) 긴 시간 안정성 : 4시간에 걸쳐 < 4% RSD 

(6) 동위원소 비율 정밀성 : < 0.08% RSD 

(7) 질량 검량 안정성 : 8시간에 걸쳐 < 0.05 amu 

(8) 사중극자 피크 호프 속도 : 1.6M amu/sec 

(9) 검출기 직성성 : < 0.1 cps -  > 10⁹ cps

하나의 지속 스캔에서 동적 직선성의 범위는 10 오더 이상이다.

(10) 파티클 측정 범위 : ≤ 30nm

(11) 하나의 프로그램에 원소의 정량 및 파티클 분석을 동시에 가능하다. 

10) 자동시료 주입장치 

(1) 125 이상

(2) 시료 용기 (mL) : 8ml, 15ml,  50ml

(3) 시료 주입기의 세척기능이 내장 되어있다.

2. 데이터 제어 시스템

1) 소프트웨어 : 프로그램 및 라이센스

2) 하드웨어 : (Window 10 pro 64bit  24"LCD 모니터 혹은 그 이상)

D. 악세사리(Accessory)

E. Remark

1. 최종 사용자가 원하는 곳에 설치 및 운영 가능 하도록 교육실시

2. 설치 후 보증기간 2년

※ 상기 규격을 만족하는 동급 또는 동급이상의 타사 제품으로 견적제출 가능 (사업부서 확인 후 견적 제출)

※ 입찰자가 면세사업자인 경우, 견적서는 반드시 부가가치세를 포함한 가격을 제출해야 하며, 입찰결과 낙찰자가 면세사업자인 경우 낙찰금액에서 부가가치세 상당액을 차감한 금액을 계약금액으로 한다.