품  명

국  문

유도결합플라즈마질량분석기

영  문

Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer

수  량

1set

설치장소

중금속 실험실(208호)

모델명

Agilent 7700x

생 산 국

일본

제작회사

Agilent Technologies

A. 특징 (Feature)

1. 다양한 시료의 원소를 분석할 수 있는 고성능 탁상형 시스템.

2. 실험실환경에 구애받지 않고 광범위한 분석이 가능한 시스템.

3. GFAAS, ICP- OES를 대체할 수 있는 이상적인 시스템.

4. 응용에 따라 다양한 장치를 장착할 수 있어 사용자의 분석적 문제를 해결할 수 있음.

B. 시스템구성 (System configuration)

1.  ICP/MS 시스템 (Agilent 7700x ICP- MS System)1 set

1) 본체

2) 샘플도입부

3) 무선주파 발생장치

4) 팔중극 재 반응 시스템

5) 쉴드 토치 시스템

6) 샘플 인터페이스

7) 진공 시스템

8) 이온 렌즈

9) 사중극자

10) 검출기

11) 데이터 시스템

12) 기기사양

13) 최적환경

14) EPA 메소드패키지 

15) 냉각기                                                   1 set

2. 자동시료 주입장치 (I- AS) 1 set

3. 데이터 처리 시스템(MassHunter S/W 운용 소프트웨어) 1 set

C. 규 격(Specification)

1.  ICP/MS 시스템 (Agilent 7700x ICP- MS System)

1)  시료도입 시스템

가. 기본적인 시료도입부는 MicroMist타입의 Nebulizer와 최대 1분당 0.2ml까지 주입 

가능한 3개의 연동방식 펌프로 구성.

나. 펌프는 모든 기능이 컴퓨터에 의해 제어되며, 소프트웨어에 의한 프로그래밍이 가능함.

다. 내부 표준법을 위한 온라인 방식의 표준용액 도입방식 제공.

라. 에어졸 분류기의 온도는 추가적인 수냉식 냉각장치의 부착 없이도 전자적인 제어 

방식 으로 - 5℃에서 20℃까지 제어되어야 함.

마. 유도쌍 플라즈마 생성부는 컴퓨터에 의해 상하, 좌우, 앞뒤가 0.1mm 단위로 제어 

되어야 함. 

바. Torch의 변환시 플라즈마 위치를 Autotune기능으로 분석자의 별도 조작 없이 자동

적으로 최적화함.

사. Plasma, Auxiliary, Make- up, Carrier gas등 5개의 ICP gas parameter를 독립적으로

컴퓨터조절이 가능한 Mass flow controller로 조절.

2) 유도쌍 플라즈마 생성을 위한 라디오파 생성기

가. 발생 라디오파의 주파수는 27.12MHz로 크리스탈 방식의 제어기로 구성되어 있고, 

라디오파의 세기는 최대 1600W 이상을 지원해야 함

나. 도입되는 시료 용액 조성이 변화될 경우 플라즈마 안정을 위한 최적화 조건이 동시

에 진행되어야 함.

다. 라디오파를 전달하는 코일은 접지되어 있어야 하며, 추가적인 조건변화 없이 플라

즈마와 시료 도입부 간의 거리를 제어할 수 있어야 함.

3) 팔중극 재반응 시스템(Octopole Reaction System(ORS³))

가. 8개의 전도성 막대로 구성된 ORS(Octopole Reaction System)는 수소 또는 헬륨 가

스를 이용하여, 플라즈마를 통한 시료의 이온화 과정에서 생성되는 Ar base의 방해 

이온물질을 제거 시킨다.

나. ORS는 불활성 가스인 헬륨을 이용하여 예측할 수 없게 생성되거나 새롭게 추가적

으로  발생되는 방해물질 없이 방해물질을 간단하게 제거시킨다

4) Shield torch 시스템

가. Shield Torch는 시스템이 기본적으로 구성되어 있어 시스템의 방해물질 제거 성능

으로 극대화 시킴.

나. Shield Torch는 시스템에 비해 방해물질 제거 효율이 뛰어나고 이로써 이온 집중 

효과도 탁월하게 함

5) 샘플 인터페이스

가. 이온도입부는 스크루 타입으로 공구 없이 손쉽게 교체가 가능함.

나. 기본 이온 도입부는 니켈 재질,(샘플러콘 내경 :1 .0mm, 스키머콘 내경 : 0.4mm)

다. 진보된 콘의 형태는 모든 질량범위에서 oxide double charged ion의 생성을 최소

화하여 고감도의 분석을 가능케 한다.

6) 진공 시스템

가. 3단계 독립적인 진공시스템은 1개의 Turbo Pumps(250 1/sec)와 저진공 펌프로 구

성되어 있다.

나. 3단계 진공 시스템에 의해 형성되는 압력은 5X10E- 4 torr이하로 제어됨

다. 갑작스런 전원 중단으로 인한 오일 역류 방지를 위한 전동식 게이트밸브의 장착.

라. Slide Valve는 플라즈마가 Switch off 될 경우 빠른 복귀를 위하여 main vacuum 

chamber의 진공상태를 유지시켜준다.

C. 규 격(Specification)

7) 이온렌즈

가. 이온 옵틱시스템은 독창적인 Omega lens(Omega(+): 15V, Omega(- ): 5V)로 구분되

어 이온의 손실 없이 질량필터와 검출기도 유도함.

나. 이온렌즈시스템은 Soft Extraction Mode, Hard Extraction Mode를 모두 제공함.

8) 질량필터

가. 사중극자 방식의 전도성 막대는 고체 몰리브덴 재질로 제작됨.

나. 질량필터에 도입되는 고주파는 고체상태의 RF Generator에서 발생되는 고주파

(3.0MHz) 로 최적의 고감도 분석을 할 수 있다.

다. 검출질량 범위는 2~260amu이며 <100usec이내의 scan speed를 가진다.

9) 검출기

가. 검출방식은 전자증배관 방식을 사용하며, 고농도 분석을 위한 아날로그 모드와 저

농도 분석을 위한 펄스모드를 지원함.

나. 검출기는 9 order의 linear dynamic range를 가진다.

10) 데이터 수집

가. Point당 최소 머무름 시간은 100usec

나. 피크당 Point의 수는 1에서 20까지 지정해 줄 수 있다.

11)기기사양

가. 감도

Non gas mode

Li (7) : 60 Mcps/ppm

Y (89) : 250 Mcps/ppm

Tl (205) : 250 Mcps/ppm

U (238) : 350 Mcps/ppm

나. 바탕값 : 바탕값은 표준편차가 아닌 측정값이다.

No Gas(9 amu) < 1 cps 

He cell gas(9amu) ≤ 0.5cps 

다. Long term stability (RSD) <2% (2 h)

Shot term stability (RSD) <1.5% (20 min)

Isotope ratio precision (RSD) <0.1% [Ag(107)/Ag(109)] 

라. Oxide Species : 156CeO+/140Ce+  1.5%

마. Doubly Charged Species : 70Ce2+/140Ce+ 3%

바. 검출한계치 : 

Be(9) < 0.2ppt

In(115) < 0.05ppt

Bi(209) < 0.1ppt

He Mode

As(75) < 20ppt

Se(78) < 40ppt

12) EPA method package

가. EPA method 200.8 and 6020용 EnviroQuant software

c. 기기 콘트롤:

-  모든 기기작동은 기기 콘트롤 스크린에서 조작.

-  기기의 상태를 그래픽유저 인터페이스(GUI)로서 실시간으로 나타냄.

-  튜닝스크린은 파라메터 조절에 의해 다중이온의 신호를 실시간으로 나타내 준다.

d. 분석법 편집:

-  신속하고 쉬운 원소 선택을 위해 주기율표를 그래픽으로 나타냄.

-  원소에 대한 정보를 편집이 쉬운 데이터베이스로 구축할 수 있고 원소마다 관련정

보를 기재할 수 있음.

e. 데이터 수집:

-  데이터는 3가지 모드로 수집: 스펙트럼, 시간 분리, 시간 프로그램모드.

f. 데이터 분석:

-  정량분석 및 세미정량분석을 위하여 모든 범위의 계산 공식을 제공.

-  데이터는 엑셀을 이용하여 고객이 원하는 보고서 양식으로 출력을 할 수 있도록 

자동으로 엑셀에 전송할 수 있다.

g. 업무최적화 및 연결성

-  마크로를 이용하여 분석자가 원하는 방식으로 수정가능.

-  ChemLAN network 시스템과 호환. 

10)  물 순환식 냉식장치 

가. 디지털 방식의 컨트롤 가능한 물순환 냉각 장비.

2.  자동시료 주입장치 (ASX- 520 Autosampler)1 set

가. 소프트웨어를 통한 탐침의 X, Y, Z 축 방향으로 임의적 움직임이 가능. 

나. 14ml 60 position 3 rack, 50ml 21position, 

다. 탐침이 세척액에 담기면 세척펌프 작동.

3. 데이터 처리 시스템                                         1 set

가. Intel i3 Quad- Core 3.1GHz Processor

나. DDR3 4G RAM

다. 1TG SATA II Hard Disk

라. CD- RW Driver

마. Windows 7 Professional & Recovery DVD

바. MS Office 2010 Professional (English)

사. 22 " 이상 TFT LCD Monitor 

아. Laser Printer

D. 악세사리 (Accessory)

1. 셀가스 정화 킷                                                 2개

2. 자동샘플 주입장치 용 53구 시료 틀                                1개

3. 18ml 시료 바이알 55개/팩                                        5개

4. 자동샘플 주입장치 배출용액 외부 용기                        1개

5. 튜닝 솔루션                                                1개

6. 데스크톱 컴퓨터                                                1개

7. 알곤 파이프 셋                                                2개

8. 배기장치                                                        1개

9. 액세서리 키트                                                      2개

10. Comprehensive Spares Kit                                         2개

11. 2.5mm ID sapphire injecto                                        1개

12. PFA Concentric Neb.                                              1개

13. Pt sampling cone for s- lens                                       1개

14. Pt skimmer cone (Ni base) x- lens                                 1개

15. Add connecting pipe with gas port                               1set

E. 비 고

1. 기기는 본사로부터 승인을 받은 전문 엔지니어에 의해 설치/ 테스트를 하여야 한다.

2. 운영 및 교육은 사용자의 장소나 요구되는 장소에서 입찰자의 책임하에 수행되어야한다.

3. 무상서비스 기간은 성능 검사 후 2년간 제공된다.

품  명

국  문

유도결합플라즈마질량분석기

영  문

Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer

수  량

1set

설치장소

중금속 실험실(208호)

모델명

aurora M90

생 산 국

미국

제작회사

Bruker 

A. 특징 (Feature)

1. 디지털 디텍터만을 이용하여 9차의 동적범위를 제공할 수 있고, 샘플 분석 중이

라 하더라도 편하게 서로 분석 형태를 바꿀 수 있다.

2. 에어로졸 희석 방식은 고매질의 시료의 분석을 용이하게 한다.

3. 90도 꺽인 이온 미러 방식이며, 가스를 이용한 자동 희석기능을 토치와 스프레

이 챔버에서 수행할 수 있다.

4. 플라즈마의 정렬, 검출기의 보정. 사중극자의 해상도, 질량보정 및 성능 검사를 포함하는 

모든 기기의 초기 기기의 최적화 작업을 한번의 버튼 사용으로 자동으로 설정해 준다. 

5. 인터넷을 이용하여 분석 결과를 메일로 보내기, 최신의 기기의 정보 및 프로그램의 다운

로드, 최신의 분석 방법이나 LIMS를 통한 기기의 통제 및 유선을 통한 기기 진단등의 지

원이 가능하다.

B. 시스템구성 (System configuration)

1.  ICP/MS 시스템 (aurora M90 ICP- MS System)1 set

  1) 시료도입부

2) 플라즈마 인터페이스 

3) 이온 광학 시스템4) 진공 시스템    5) 충돌 반응 인터페이스 II6) 사중극자 7) 검출기 시스템

8) 성능 사양

2. 자동시료 주입기  1 set

3. 냉각시스템  1 set

4. 운영프로그램            1 set

5. 배출시스템                   1 set

C. 규 격(Specification)

1.  ICP/MS 시스템 (aurora M90 ICP- MS System)

1)  시료도입부

가. 네뷸라이저 : 낮은(400uL/분) 유리 콘센트릭 네뷸라이저

나. 스프레이챔버 : 영하15도부터 상온까지 자유롭게 전기로 온도 조절이 가능

다. 개의 독립적인 압력 조정 채널

라. 토치 : 낮은 흐름을 갖는 일체형토치

마. 에어로졸 희석 방식은 고매질의 시료의 분석을 용이하게 한다.

2) 라디오주파수 발생기

가. 주파수 :  27.12 메가헤르츠 또는 40메가헤르츠 공기 냉각 방식.

나. 형태 : 수정진자 방식.

다. 힘의 범위 : 600- 1600W 또는 그보다 넓어야 함.

라. 시료에 따라 최적의 결과를 주는 힘을 분석 방법에 저장 및 정립할 수 있다.

마. 자동 점화 및 소화.

3) 플라즈마 인터페이스

가. 스키머 콘과 샘플 콘을 쉽게 접근 및 제거할 수 있다.

나. 한 셋의 씨.알.아이 방식의 출동 반응 인터페이스 콘을 기본으로 제공한다.

다. 구멍의 지름 : 1.1mm 샘플 콘, 0.5mm 스키머 콘 동등이거나 그 이상.

라. 빠른 워밍업, 안정성의 향상, 빠른 냉각을 위하여 콘을 포함하여 플라즈마 인터페이스

를 물로 냉각한다.

마. 플라즈마의 수평, 수직은 컴퓨터에 의한 자동조절이 되고, 시료주입의 깊이는 최적의 

감도와 최소의  다중원자 방해를 위하여 컴퓨터 또는 수동으로 조절한다

바. 저온 플라즈마 분석 방식의 경우, 특허인 Turner Interlaced Coils를 이용하여 기계적

인 쉴드 토치를 이용하지 않고 다중원자 방해를 최소화한다. 

4) 이온 광학 시스템 

가. 이온 거울 시스템은 진공 펌프로 광자와 중성자를 제거하는 동안 90도로 분석물질의 

이온빔을 반사시키는데 이는 이온 거울로 오목한 전자기장을 형성하여 분석 물질의 

빔을 사중극자의 입구에  최적의 효율로 보내기 위함이다. 

나. 추출랜즈 1과 2 또는 쉐도우 스톱을 가지는 일체형 렌즈는 진공을 깨지 않고 세척할 

만큼 접근용이성이 뛰어나야한다.

다. 이온 거울을 포함한 모든 이온 광학계를 자동으로 최적화 한다. 

라. 사중극자 질량 분석기는 특허인 휜 스테인레스 스틸의 입구 봉들을 이용한 오프 엑시

스 형태를 띠거나 디.알.씨 투 방식이어야 하는데 이는 사중극자 전에 들뜬 중성자를 

한 번 더 제거하여 낮은  기준값을 보장하기 위함이다.

5) 진공 시스템

가. 펌프 수 : 두개의 로터리펌프, 1개의 터보펌프 동등이거나 그 이상.

나. 용량 : 터보펌프는 (250L/초) 또는 그 이상. 로터리펌프들은 (300L/분) 또는 그 이상.

다. 로터리 펌프는 오일의 수위를 쉽게 관측할 수 있고 또한 오일의 교환 및 수리의 편의

를 위하여 기기의 앞면에 장착되어 있다. 

라. 모든 진공구성품은 기기의 실험실의 소음을 줄이고 공간을 줄이기 위해서 기기의 주 

박스 안에 위치하고 있다.

마. 일차와 이차 진공 상태의 사이에서 공기의 작용에 의한  진공 분리문은 힘의 손실의 

경우에는 자동으로 닫힌다.

C. 규 격(Specification)

6) 충돌 반응 인터페이스

가. 이온들이 콘의 구멍을 통과 할 때 간단히 충돌 반응 가스를 플라즈마를 향하여 주입

함으로서 방해요인을 감소시키는 방법을 사용해야 한다.

나. 가스는 샘플 콘이나 스키머 콘 또는 양쪽에 모두 주입할 수 있어야 한다.

다. 가스 주입 및 중단과 가스들의 선택은 쉽고 빠르게 전환 할 수 있다. 

7) 사중극자 질량분석기

가. 스테인레스 스틸 원형막대는 거의 완전한 쌍곡선 장을 형성하기 위하여 마이크로 단

위의 허용오차를 두고 만들어 질 정도로 정밀하고 세라믹 틀에 고정되어 있다. 스테

인레스 스틸구조는 높은 잔류 효과 없이 수은을 분석 할 수 있다.  휜 입구막대는 이

중 오프 엑시스를 형성하여 낮은 기준값을 가진다.

나. 검출기의 교체와 세척에 의하여 질량 분석기와 검출기에 대한 접근용이성이 뛰어나

다. 모든 전압은 완전히 컴퓨터에 의해 조절되며 연동된다. 

다. 질량 보정 안정도 : 8시간에 0.05amu 또는 그 이상.

라. 주파수 : 2.6MHz 또는 그 이상.

8) 검출기

가. 형태 : 디지털 형태 또는 아날로그 디지털 혼합 형태

나. 동적범위 : 9차 이상

다. 오직 디지털 모드로만 분석하는 ETP AF250 DDEM 검출기 또는 초음파분무장치를 가

지는 아날로그 디지털 혼합방식의 검출기.

라. 측정하는 다이노드는 기준값을 낮추게 하기 위하여 오프 엑시스로 장착 된다.

9) 성능사양 

가. 긴 시간 안정도(4시간) : <4% RSD 

나. 어번던스 감도

23^{Na 측정 시:}

* 피크의 낮은 질량 사이드에서 1.0 x 10^{- 6}보다 더 좋아야 한다.

* 피크의 높은 질량 사이드에서 1.0 x 10^{- 7}보다 더 좋아야 한다.

다. 산화도(CeO+/Ce+) : < 3%

라. 이중 전하 이온(Ba++/Ba+) : < 3%

마. 기준값(at 5amu 또는 50.5amu) : < 5c/s

바. 감도 : 115 In : > 1000 Mcps/ppm 또는 그 이상

232 Th : > 300 Mcps/ppm  또는 그 이상

9 Be : > 50 Mcps/ppm 또는 그 이상 

10) 물 냉각장치

가. 물 냉각을 필요로 하는 모든 분분을 냉각 할 수 있는 용량을 가져야 한다.

나. 이 냉각 장치의 운영은 기기에 의해서 모두 모니터링 되어야 하는데 물의 흐름 

속도와 온도 안전 장치 부분은 반드시 기기에서 확인 할 수 있어야 한다. 충분하지 

못한 냉각 조건이 발생 할 경우 기기에 손상을 방지하기 위해서 냉각이 필요한 

부품은 바로 작동이 중지 되어야 한다. 

11) 배기시스템

가. 배기시스템은 사용자의 요구에 따라 설치되어야한다.

나. 배기시스템의 사양은 설치된 기기가 최상의 데이터를 내는데 적합하도록 용량을 

가져야한다. 

C. 규 격(Specification)

12) 운용 프로그램

가. 동위원소에 대한 정량 분석기능

나. 완전한 방해 보정식의 활용

다. 내부표준물질 확인

라. 여러 원소 분석 시, CRI 모드, 핫 모드, 쿨 모드 등등 여러 가지 조건을 한번에 셋팅

하여 원소별로 각기 최적의 분석 조건에서 한번에 분석할 수 있다. 

마. 다중원소 외부 검량선을 위한 검량선 프로그램, 표준물질 첨가법 그리고 동위원소 

비율 분석법

바. 자동 분석방법 최적화

사. 크로마토그래픽 기기와 같이 샘플을 분리해내는 기술을 연결하여 높은 속도의 시간

에 의한 신호 분리가 가능하다.

아. 컴파스 프로그램으로 LC- ICP- MS 운용이 가능

자. 작업창에서 일천개까지 샘플에 대한 명시화가 가능하다.

차. 시료 자동분석기의 랙과 튜브 위치에 대한 자유로운 편집기능

카. 검량선 프로그램화 

타. 시퀀스 옵션 (분석 후 바로 리포팅 형태의 완전한 컨트롤, 분석 후 바로 리포팅의 

외부전달, 결과의  메일링, 검량선 및 기울기의 오류 액션 그리고 분석 중 질량 스

캔의 세이빙) 

파. 완전히 자동화된 기기 초기 설치 프로그램 (기기의 안정화 시간, 플라즈마 수평, 수

직 조절, 질량 검량선, 그리고 사중극자 분해능)

하. 실시간 및 모든 질량 스캔, 특정 질량 스캔 그리고 다양한 동위원소 비율을 동시에 

그래픽으로 표현 가능 및 기기 자동 진단기능 및 성능 테스트

2.  자동시료 주입장치 (ASX 520 Autosample)1 set

1) Smart Rinse 기능-  autosampler를 사용하여 많은 샘플을 분석시 앞에 샘플의 농도가 

뒤에 샘플에 영향을 주지 않게 하기 위하여 장비에서 자동으로 base line으로 떨어질 

때까지 세척한 후 다음 샘플로 넘어 가는 기능 있어야한다.

2) 소프트웨어를 사용하여 원소를 선택적으로 선택 모니터링 할 수 있는 기능 있어야한다.

3) 150개 이상 시료장착

3. 데이터 처리 시스템                                         1 set

가. Intel i3 Quad- Core 3.1GHz Processor

나. DDR3 4G RAM

다. 1TG SATA II Hard Disk

라. CD- RW Driver

마. Windows 7 Professional & Recovery DVD

바. MS Office 2010 Professional (English)

사. 22 " 이상 TFT LCD Monitor 

아. Laser Printer

D. 악세사리 (Accessory)

1. 마이크로미스트 유리 콘센트릭 네뷸라이저                   2개

2. 여분의 스프레이 챔버                                         2개

3. ICP/MS 기본 설치 킷                                         2개

4. ICP/MS용 여분의 토치                                         2개

5. 쉬스가스 연결 튜브                                         2개

6. 스프레이챔버/토치 연결 엠에스 튜빙 키트                        2개

7. 유도결합플라즈마 샘플 도입 튜빙 키트                        2개

8. PVC, 파랑, 표준 튜브 (12/팩, 2ml/min)                        2팩

9. PVC, 검정, 표준 튜브 (12/팩, 2ml/min)                        2팩

10. 니켈 샘플러 콘                                                1개

11. 니켈 스키머 콘                                                  1개

12. 60개 시료 장착 랙                                          1개

13. 표준 및 튜닝 솔루션                                          1개

14. 불산 키트                                               1 set

1) PFA 분무방               1 ea

2) 2mm 내경 사파이어 인젝터               1 ea

3) 백금 샘플 콘, 스키머 콘                     각 1ea

E. 비 고

1. 기기는 본사로부터 승인을 받은 전문 엔지니어에 의해 설치/ 테스트를 하여야 한다.

2. 운영 및 교육은 사용자의 장소나 요구되는 장소에서 입찰자의 책임하에 수행되어야한다.

3. 무상서비스 기간은 성능 검사 후 2년간 제공된다.

품  명

국  문

유도결합플라즈마질량분석기

영  문

Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer

수  량

1set

설치장소

중금속 실험실(208호)

모델명

iCAP Q

생 산 국

독일

제작회사

Thermo Scientific

A. 특징 (Feature)

1. 완전 자동화된 벤치- 탑(Bench- top)구조로서 높은 수행능력을 갖춘 시스템이다.

2. 시스템은 다양한 응용분야에 적합하도록 이상적인 주변장치와의 호환성 및 우수한 분석 수행 능력을 갖추고 쉽게 사용할 수 있으며 높은 신뢰성과 편의성을 갖추고 있다.

3. 시스템은 폭넓고 다양한 응용에 대하여 높은 분석속도로 일상적인 미량성분 분석에 적합하도록 디자인 되었다.

4. 시스템은 원활하고 쉽게 접근과 유지보수가 가능하도록 개방된 시료도입부 구조(토치 박스, RF조건, 분무기, 분무방)를 포함하고 있다.

5. 뛰어난 수행능력을 갖춘 90° RAPID 이온 옵틱 시스템은 양이온만을 선택적으로 빠르게 투과시키며 4~290까지의 전 질량범위에서 90,000 u/s이상의 빠른 스캔 스피드를 제공한다.

6. 플라즈마 TV가 탑재되어 프로그램에서 플라즈마 뿐만 아니라 인터페이스의 상태를 고 해상도 컬러 화면을 원격으로 관찰할 수 있다.

B. 시스템구성 (System configuration)

1.  ICP/MS 시스템 (iCAP Q ICP- MS System)1 set

1) 시료 도입부

2) RF 발생장치

3) ICP- MS 인터페이스

4) 이온추출 시스템 및 질량필터

5) 진공부

6) 검출부

7) 장비 제어 및 데이터 관리 시스템

8) 데이터 처리 시스템

9) 소프트웨어

10) 성능 규격

2. 물순환 냉각 시스템                                                    1 set

3. Q Cell 기술 방해물질 제거장치                                         1 set

4. 자동시료 주입장치  1 set

5. 데이터 처리 시스템 1 set

C. 규 격(Specification)

1.  ICP/MS 시스템 (NexiON 300X ICP- MS System)

1) 시료도입 시스템

가. PFA재질의 분무기로서  ~ 0.4mL/min. 시료 소모량, 0.2% 이하 TDS 분무 가능

나. 펠티어 냉각 온도 제어 분무방 (- 10℃~+20℃).

다. 비금속 소재의 우수한 신뢰도를 갖춘 12 롤러, 4- 채널 펌프

라. 고순도 석영 재질의 사이클로닉 분무방

마. 2.5mm 내경의 석영 시료주입관, 자동 조정

바. 고 해상도 컬러 TV를 통한 플라즈마 상태 관측 영상

사. 가스 제어 : 냉각, 보조 및 분무가스 미세유량 조절기 장착 (MFC)

아. 2개의 추가 미세유랑조절기 장착 가능

2) 라디오주파수 발생기

가. 일체형 수냉식 디지털 고상 라디오 주파수 발생장치, 27.12MHz

나. 출력범위 :500 ~ 1600와트, 컴퓨터 제어 및 연속적 조절 가능

다. 분리 가능한 싱글- 피스 석영 토- 치 및 connection free 가스 공급라인

라. 긴 수명과 플라즈마 점화가 개선된 은 코팅된 로드- 코일

마. 최적의 이온 포커싱과 이온 전송을 위한 실드- 레스 방식

3) 인터페이스

가. 편리한 전면개방형 인터페이스 룸은 빠르고 동시적으로 콘과 이온 추출렌즈에 접근

할 수 있다.

나. 구성품 :

-  니켈재질의 샘플러 콘 : 1.1mm 내경의 침적을 최소화 한 오리피스

-  니켈재질의 스키머 콘 : 0.5mm 내경의 침적을 최소화 한 오리피스

4) 이온 추출 시스템 및 질량 필터

가. 90° 원통 모양의 RAPID 이온 렌즈, 고정된 전압값에서 작동.

나. 90° 렌즈를 통하여 상호작용 없이 중성물질 제거

다. 버츄얼 쌍곡선 필드 극자, 고상 2MHz 서플라이

라. 질량범위 및 스캔 속도

: 4- 290원자질량 & >90,000 원자질량/초 (리튬- 우라늄- 리튬 :5밀리초 미만, 

100마이크로초 / 각 질량)

마. 4중 극자 : 견고한 몰리브데늄 합금 처리된 알루미나 세라믹의 4각형극자(Flata- pole) 

바. 안정도 : <±0.025 원자질량 / 8시간

5) 진공부

가. 3- 단 분할된 진공 펌프 시스템

나. 분할된 1개의 터보 펌프와 1개의 로터리 펌프

다. 로터리펌프는 분석기 내부의 소음과 공기중 오염물질을 원격적으로 줄여준다.

라. 펌프 시스템 용량 : < 1X10^{- 6} 밀리 바 (15분 이내) -  대기압으로 부터

마. 정전후 자동적으로 가동되는 터보 펌프 

6) 검출부

가. 긴 수명의 검출기 : 아나로그/펄스 카운팅 -  4 오더 이상, 100마이크로초 체류시간

나. 동적 범위 : 마그니튜드 9- 오더 이상

다. 아나로그 / 펄스 모드 자동전환 측정 방식.

C. 규 격(Specification)

7)  장비 제어 및 데이터 관리 시스템

가. 전용 카드를 통해 스펙트로메터와 컴퓨터가 통합된 단일 시스템 환경

나. 고속의 USB 연결방식으로 데이터 전송속도 향상 및 간소화된 연결 케이블.

다. 최소 체류시간 : <100마이크로초/채널 (두가지 모드에서)

8)소프트웨어구성 

가. 간단한 장비 조작 – 한 번의 마우스 클릭으로 시스템이 작동가능 상태로 준비되어 

분석을 할 수 있다. 경우에 따라서, 고급화된 오토튜닝이나 보정작업의 시험방법을 

저장하여 바로 실행할 수 있다.

나. 사용자 편의 분석 운영 – 간단하고 논리적인 운영 방식으로 사용자의 요구에 대한 

신속한 분석법의 개발이 용이하다.

다. LIMS와 완전 연계 – 소프트웨어에서 장비 분석법의 개발을 통해서 LIMS의 요구사항

에 완벽하게 대응한다. 다양한 사용자 정의 리포트의 작성이 가능하여, LIMS 뿐 아니

라 기타 소프트 웨어와의 연계가 가능하다. 

라. 21 CFR Part 11을 지원 – 소프트웨어인 Qtegra는 21 CFR Part 11에 완벽하게 대응

하며, 분석기록 관리, 전자서명 뿐 아니라 압축된 데이터 관리 기능을 포함한다. 

마. 다양한 데이터 확인 도구 – 복잡하고 다양한 분석결과와 분석일자를 기준으로 빠른 

검색 기능을 통해서 분석결과의 확인으로 새로운 분석의 생산성을 향상 시켜준다.

바. 연계 장비 해결 – 소프트웨어에서 레이저 침식 장비와 크로마토그래피 시스템의 연

결 운영이 가능하여 한 번의 분석으로 최종 분석 결과를 확인 할 수 있다.

9)기기 보증 성능

가. 감도 (단위 : 킬로 카운트/초/ppb)

7리튬 > 50 Kcps/ppb 

115인듐 > 220 Kcps/ppb

238우라늄 > 300 Kcps/ppb

나. 바탕값

0.5 카운트 / 초 미만, 질량4.5에서 측정

다. 검출한계 (ppt)

9베릴륨 : < 0.5, 115인듐 < 0.1, 209비스무스 < 0.1

라. 다원소 화합물

10ppb 튜닝 솔루션 측정 

-  산화물 생성율 < 2% CeO/Ce

-  2가 양이온 생성율 < 3% Ba++/Ba+

마. 안정도

장시간 안정도 (120분) :리튬, 인듐, 우라늄 : 10ppb.

안정도 < 3% 상대표준편차 (내부 표준물법 제외)

단시간 안정도 (10분) : 리튬, 인듐, 우라늄 : 10ppb.

안정도 < 2% 상대표준편차 (내부 표준물법 제외)

바. 동위원소 비율 안정도 (%RSD)

107은 / 109은 : < 0.1%

10) 독립형 물 순환 냉각시스템1 set

공랭식 냉각 시스템 (60Hz).

6) 연동 펌프 튜빙 0.508mm, or/ye2 pk

7) Santoprene 펌프 튜빙 1.295 gr/gr4 pk 

8) 복합 표준용액 1 set

바탕용액 (HNO3)        100ml

복합원소 표준용액 QC1100ml

복합원소 표준용액 QC2100ml

복합원소 표준용액 QC4100ml

9) 초순수 셀가스, 실린더, 레귤레이터 1 set

10) ICP- MS용 국소 배기장치

E. 비 고

1. 기기는 본사로부터 승인을 받은 전문 엔지니어에 의해 설치/ 테스트를 하여야 한다.

2. 운영 및 교육은 사용자의 장소나 요구되는 장소에서 입찰자의 책임하에 수행되어야한다.

3. 무상서비스 기간은 성능 검사 후 2년간 제공된다.

품  명

국  문

유도결합플라즈마질량분석기

영  문

Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer

수  량

1set

설치장소

중금속 실험실(208호)

모델명

NexiON 300X

생 산 국

미국

제작회사

Perkin Elmer

A. 특징 (Feature)

1. 다양한 매질 시료에 대한 빠른 극미량 원소분석을 일상적으로 수행하기 위해 디자인된 벤치톱 형식의 유도 결합 플라즈마 질량분석기 이어야한다.

2. 마이크로소프트 윈도우즈 XP 기반에서 운영되도록 특별히 디자인된 소프트웨어는 친숙한 환경으로 배우고 사용하기가 쉽고 빠를 것. 다중작업이 가능한 소프트웨어는 ICP- MS를 위한 32비트 처리의 응용 지원이 되도록 개발되어 있어야 한다.

3. 사중극자 이온 굴절기(QID), 세라믹 합금 사중극자 기술과 혁신적인 범용 셀기술(UCT)은 고성능을 보장한다.

4. 검출기는 두 개의 상의 별도의 증폭기로 이루어지며, 아날로그와 펄스의 두 가지 모드로 매 번 스캔을 하여 자동으로 적합한 모드로 측정한다.

5. 간섭 종은 화학적 반응, 물리적 충돌 혹은 TOF에 의해 제거된다.

6. 간섭은 높은 효율로 제거되며 ICP보다 낮은 바탕 값을 가진다. 

7. K, Ca, Fe 같은 독특한 원소들도 일반적인 플라즈마 조건에서 분석이 가능하다.

8. 화학적 분해능은 높은 감도와 높은 특성을 제공한다.

B. 시스템구성 (System configuration)

1.  ICP/MS 시스템 (NexiON 300X ICP- MS System)1 set

  1) 시료도입 장치

2) 라디오 주파수 발생장치 

3) 인터페이스

4) 진공 시스템 

5) 이온 옵틱스 시스템 

6) 질량 분석기 

7) 간섭제거 시스템 

8) 검출 시스템 

9) 소프트웨어 

10) 보증된 선적 규격 

2. 자동시료 주입장치  1 set

3. 데이터 처리 시스템 1 set

C. 규 격(Specification)

1.  ICP/MS 시스템 (NexiON 300X ICP- MS System)

1)  시료도입 시스템가. 분무기 ; 동축형 분무기

나. 분무함 ; 사이클로닉 방식 분무함

다. 미니 플러스 3- 채널 연동펌프

2) 라디오주파수 발생기

가. 주파수 ; 40MHz

나. 작동 파워 ; 0.5kW ～ 1.6kW

다. 형식 ; 자유 발진형

라. 안전 규격 ; FCC part 15, Class A

3) 인터페이스

가. ICP- MS의 인터페이스는 모든 이차 방전을 제거하여 안정하고 신뢰성있는 작동을 

보증해야 한다.

나. 플라즈마 록 기능은 유지보수가 필요 없으며 모든 플라즈마 조건에서 작동해야 한다.

다. 인터페이스 디자인은 예측 불허의 플라즈마 아킹으로부터 콘을 보호할 수 있어야 한다.

  라. 미국 환경청 시험법 6020 ICSA 용액의 분석 중에도 막힘이 없도록 샘플러 콘의 구

멍이 1.1mm보다 크거나 같게 스키머 콘의 구멍이 0.9mm보다 크거나 같게 디자인

되어 있어야 한다.

마. 4 채널 질량 흐름 콘트롤러

4) 진공 시스템

가. 펌프 ; 삼중 터보 몰레큘러 펌프는 세라믹 베어링을 사용하여 산의 부식으로부터 

보호되어야 한다. 인터페이스에 1개의 러핑 펌프를 설치해야한다. 

나. 진공 레벨 ; 1 x 10^{- 6}Torr 또는 그 이하

다. 고진공 챔버는 게이트 밸브에 의해 보호되며 러핑 펌프의 라인은 anti- suck- back 

밸브에 의해 보호 

5) 이온 옵틱스 시스템

가. 특허의 소형 사중극자 방식으로 이러한 비약적인 필터시스템에 의해 이온은 90도

로 꺽어서 특정 질량의 이온은 범용 셀로 포커싱하며 중성분자종들은 제거하게 된다.

나. 사중극자 이온 굴절기를 통과하는 경로는 3중 콘 인터페이스를 떠난 단단히 제어

된 이온 빔과 잘 정렬되어 있다.

다. 이러한 기능으로 이온과 중성분자종들은 절대로 주요 구성품의 표면을 건드리지 

않고 최상의 안정성을 위한 깨끗한 표면을 유지시켜 세척 과정이 필요치 않다.

6)  질량 분석기

가.형식 ; 이원의 금- 판 세라믹 로드로부터 밴드 패스 조절 혹은 시간 비행 방식의 범

용 셀의 쌍곡선 장을 형성 

나. 스캔 속도 : > 5,000 amu/sec

다. 질량 범위 ; 이원의 금- 판 세라믹 로드에 의한 ~ 285 m/z

7)  간섭제거 시스템

가. 통합 셀 기술(UCT) 과 3중 콘 시스템

나. 반응가스 : VLSI 등급

다. 발열반응, 흡열반응

라. 반응셀의 효율 : 99.9999999%

마. 반응셀 기반의 사중극자

바. 운동에너지 제거방식은 충돌 가스로서 불활성 가스를 사용한다.

C. 규 격(Specification)

8)  검출 시스템

가.동적 범위 ;  9 order of magnitude 이상

나.아날로그와 펄스 카운트 신호를 한번의 스캔으로 동시 측정하는

2단계 Discrete Dynode Electron Multiplier (DDEM)가 표준으로 장착.

다.  스위칭 시간 : < 0.2 ms

라.  데이터 획득 : 5,000 data points/sec 까지 

9)소프트웨어구성 

가. MS Window XP Professional, 윈도우 소프트웨어

^{나. 자동화된 방법으로 제작}

다. 반 정량분석 패키지

라. 정량분석과 검량 보정 시스템

마. 최적용량 파라미터(변수) 최적화 가능

바. 향상된 그래픽 패키지

사. 자동화된 분광학적 해석

아. 전위 신호 분석 

자. 레포트 일반화 패키지

차. 온라인 방법 구축

카. 모든 QA/QC 기능 적용

타. 사용자가 작업공간 결정

파. 실시간, 온라인 진단

하. 정량모드에서 단일점 피크 호핑 기능. 

10)기기 보증 성능

가. 감도

A. ⁹Be > 3 Mcps/ppm

24^{Mg > 20 Mcps/ppm}

¹¹⁵In > 50 Mcps/ppm

²³⁸U > 40 Mcps/ppm

나. 검출한계

A.⁹Be < 1 ppt

⁵⁹Co < 1 ppt

¹¹⁵In< 0.5 ppt

²³⁸U < 0.5 ppt

다. 산화물 및 2가 양이온종

CeO+/Ce+  < 2.5%

Ce2+/Ce+   < 3%

라. 무작위 바탕선

.Mass 220 < 2 cps

마. 짧은 시기동안의 안정성 (1ppb 표준용액, 내부표준물질없이)

.Mg, Cu, Cd, Pb < 3% RSD

바. 긴 시기동안의 안정성(1ppb 표준용액, 내부표준물질없이)

.Mg, Cu, Cd, Pb < 4% RSD

사.  동위원소 비율 재현성

25 ppb를 이용한 107Ag/109Ag  <  0.2% RSD

E. 비 고

1. 기기는 본사로부터 승인을 받은 전문 엔지니어에 의해 설치/ 테스트를 하여야 한다.

2. 운영 및 교육은 사용자의 장소나 요구되는 장소에서 입찰자의 책임하에 수행되어야한다.

3. 무상서비스 기간은 성능 검사 후 2년간 제공된다.